彈簧探針
針對客戶需求,除了一般彈簧探針之外,另外有針對Fine Pitch、高頻、大電流、耐高溫、非磁性...等特殊用途之探針。
『短 小 精 幹』為精研探針特色。
『短』:探針製作最短可達1.5mm長
『小』:針對Fine Pitch製作最小間距可達0.08mm之探針
『精』:針對高頻、大電流、耐高溫、無磁性...等特殊用途 皆有開發對應之解決方案
『幹』:開發新材料合金產品提昇探針壽命
『短 小 精 幹』為精研探針特色。
『短』:探針製作最短可達1.5mm長
『小』:針對Fine Pitch製作最小間距可達0.08mm之探針
『精』:針對高頻、大電流、耐高溫、無磁性...等特殊用途 皆有開發對應之解決方案
『幹』:開發新材料合金產品提昇探針壽命
合金探針
針對無鉛製程之Bump、錫球,一直以來所使用之探針
由於焊錫附著使得壽命縮短,營運成本變高。
本公司針對無鉛製程提供對策,針對客戶所需之各式探針進行提案。代表性的產品有利用增加原有鍍金硬度之「硬質鍍金」、及精研自行開發之「合金」。比原先產品磨耗性、接觸阻抗皆較穩定、並提升防止焊錫附著之能力。
左圖為原本鍍金探針與合金探針之阻抗值比較推移圖
X軸為Contact次數(到200K推移)
Y軸為阻抗值變化
高頻探針
為確保各種半導體RF元件信賴性,高頻探針不可缺。
利用本公司精密加工及組裝技術,實現可對應高頻測試之探針製作,解決客戶所遭遇問題。
1.為使達到高頻測試目的,將全長短縮至極限長度1.5mm。
2.依元件電極種類,可提供皇冠頭、尖頭等不同針型。
3.跟一般彈簧探針一樣,可單獨更換其中任一支探針。
利用本公司精密加工及組裝技術,實現可對應高頻測試之探針製作,解決客戶所遭遇問題。
1.為使達到高頻測試目的,將全長短縮至極限長度1.5mm。
2.依元件電極種類,可提供皇冠頭、尖頭等不同針型。
3.跟一般彈簧探針一樣,可單獨更換其中任一支探針。
Fine Pitch
針對電子元件引腳窄化趨勢,為確保信賴性,高精密探針不可缺。
利用本公司精密加工及組裝技術,實現可對應80umPitch探針之製作,解決客戶所遭遇問題。
1.為使達到Fine Pitch目的,將外徑短縮至50um。
2.跟一般彈簧探針一樣,可單獨更換其中任一支探針。
利用本公司精密加工及組裝技術,實現可對應80umPitch探針之製作,解決客戶所遭遇問題。
1.為使達到Fine Pitch目的,將外徑短縮至50um。
2.跟一般彈簧探針一樣,可單獨更換其中任一支探針。
各式特殊需求探針
磁傳感器用探針(無磁性探針)針對電子羅盤、霍爾IC、MR、MI Sensor等各種磁傳感器的檢查,尋求使用無磁化探針檢查。
回應客戶高度期望,本公司獨自選定材料、加工部品,開發了High-level無磁性Probe。藉由累積之Knowhow,包含Housing設計等可提出綜合建議。 |
高溫用探針為了確保零件可靠度,在高溫條件下的負載測試是一個非常有效的手段。
針對高溫環境下測試的挑戰,使用自己開發材料、表面處理及解決各種高溫材料加工技術所累積之經驗提出建議 。. |
大電流用探針使用於車載元件之半導體檢查,所需要的是可對應大電流之探針。
本公司提出獨特結構設計之探針,可同時滿足窄小間距及大電流問題,可解決大電流測試課題。 |
探針訂製
針對客戶需求,可訂製各式探針。
無論長短、針頭形狀、材料材質、電鍍種類、高頻需求、高溫需求、大電流需求...等皆可對應,若有其他需求,亦歡迎提出檢討。
無論長短、針頭形狀、材料材質、電鍍種類、高頻需求、高溫需求、大電流需求...等皆可對應,若有其他需求,亦歡迎提出檢討。